大功率芯片测试机

可实现大功率 LD 芯片电气和光学特性自动测试、判定与分选。设备采用高精度、高稳定性快速温控系统，同时采用不同规格的积分球进行光功率数据的采样转换，测试数据的再现性和相关性稳定可靠。

30W 大功率测试兼容
针对大功率器件设计，支持最高 30W 功率的可靠评估。
专业级积分球光采集
配备多种规格积分球进行光功率数据采样，确保核心数据高保真再现。

SY-5100S型大功率芯片测试机

SY-5200S型大功率芯片测试机 (大小功率通用)

芯片尺寸限制 (L×W×H)

(600~3000)μm × (250~400)μm × (100±10)μm

波长范围

200nm ~ 1700nm

功率范围

1μW ~ 30W