双温芯片测试机

主要用于检测 LD 芯片在常温和高温下的光电性能。设备可在 20°C~100°C 温度范围内，高保真完成芯片的正光与背光 LIV、光谱及出射光束特性测试，确保测试结果具备出色的可重复性。

±0.1°C 极速温控
配备精密温控系统，支持高精度快速温度调节。
全参量 LIV 分析
涵盖阈值电流、斜率效率、边模抑制比等关键指标。

SY-8100D型芯片测试机 (通用型)

SY-7300DG型芯片测试机 (通用型)

支持芯片类型

LD, FP, EML, EML(SOA), SLD

芯片尺寸限制 (L×W×H)

(150~1200)μm × (120~600)μm × (100±10)μm

波长范围

600nm ~ 1700nm

功率范围

1μW ~ 300mW