巴条测试机

全自动激光器巴条测试机，支持多种规格料盒或蓝膜自动上下料，针对巴条形态 (Bar) 实现常温及低温光电性能测试。单或双探针加电，支持对于 NG chip 采取打点标记跟踪。

多形态 Bar 支持
适配多种规格积分球和测试料盒，可对长度达 60mm 的巴条流畅处理。
NG 芯片物理标记
检测出的不良芯片设备将进行极速打点标记，开放测量数据库到下工序。

SY-1901S型全自动低温Bar条测试机

SY-1901D型全自动低温Bar条测试机

SY-1201型全自动单工位Bar条测试机

SY-1201D型全自动双工位Bar条测试机

尺寸限制 (L×W)

(10~60)mm × (0.5~5)mm

波长范围

200nm ~ 1700nm

功率范围

1μW ~ 30W