APD器件测试机

APD测试机主要用于在可控温度条件下检测APD芯片的光电性能，包括暗电流、响应度、增益、击穿电压等参数。测试覆盖APD芯片的正面与背面，并支持暗场与光场两种测试环境。芯片温控范围为+25℃至+95℃，控温精度达±0.1℃。

暗场与光场双环境
测试覆盖APD芯片的正反面，全面支持暗场与光场两种测试环境，满足严苛性能检测需求。
高精度宽温控
温控范围+25℃至+95℃，且控温精度高达±0.1℃，确保测试过程高效稳定。

SY-2000型 APD手动测试机

SY-2010BZD型 APD半自动双温测试机

SY-2010QZD型 APD全自动wafer测试机

芯片尺寸

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